QuintSonic 7測(cè)厚儀(超聲波)/德國(guó)epk
QuintSonic 7測(cè)厚儀(超聲波)/德國(guó)epk
此外,該單元還可用于通過(guò)涂層測(cè)量薄基板。附加功能包括測(cè)量低至10微米涂層厚度和內(nèi)置A-Scan圖形顯示選項(xiàng)的功能。該儀器Z多可存儲(chǔ)250,000個(gè)讀數(shù)和尺寸,單位為微米,毫米,密耳和英寸。 QuintSonic 7符合DIN EN ISO 2808:2007標(biāo)準(zhǔn),ASTM D6132 - 08,SSPC-PA9。
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